Vés al contingut
Home Publications Characterization of secondary phases in Cu-poor CuInSe2: Surface and in-depth resolved raman scattering analysis of polycrystalline layers

Characterization of secondary phases in Cu-poor CuInSe2: Surface and in-depth resolved raman scattering analysis of polycrystalline layers

  • per
Resum de la privadesa

Aquest lloc web utilitza galetes per tal de proporcionar-vos la millor experiència d’usuari possible. La informació de les galetes s’emmagatzema al navegador i realitza funcions com ara reconèixer-vos quan torneu a la pàgina web i ajuda a l'equip a comprendre quines seccions del lloc web us semblen més interessants i útils.