Vés al contingut
Home Publications Pushing the Study of Point Defects in Thin Film Ferrites to Low Temperatures Using In Situ Ellipsometry

Pushing the Study of Point Defects in Thin Film Ferrites to Low Temperatures Using In Situ Ellipsometry

  • per
Resum de la privadesa

Aquest lloc web utilitza galetes per tal de proporcionar-vos la millor experiència d’usuari possible. La informació de les galetes s’emmagatzema al navegador i realitza funcions com ara reconèixer-vos quan torneu a la pàgina web i ajuda a l'equip a comprendre quines seccions del lloc web us semblen més interessants i útils.